）是一种有线技术，网线传输数据的同时具备直流供电能力。全面应用于POE、IP摄像头、IP电话、无线AP、便携设备充电器、刷卡机、数据采集等供需端。而TT9930是一款用于以太网供电系统（POE，power over Ethernet）的，采用原边控制模式，内置200V

　　工程师在使用TT9930样机时发现，样机正常老化时，突然没有输出。经过排查后，怀疑MOS故障，本文将分享解决思路和要点。以下图片为该样机图片：

　　样机正常老化时，突然没有输出。经过排查后，发现MOS管击穿且MOS管很烫，怀疑MOS烧坏，于是对其进行点温测试。以下是样机的测试图片：

　　点温测试：测试重要元器件的温度，该测试的元器件分别有三个IC（主控TT9930、XS2100S、同步CR85V25RSA）、MOS管、输入大电容、两个输出电容、变压器磁芯与变压器线圈。

　　如上图为测试环境，该测试在尽量密闭环境中进行，不会有大量空气流入，从而使得各元器件能快速达到温度平衡的状态。

　　首先，分析导致温度过高的原因，对电源进行重新设计。能够使用更高效的散热解决方案，例如增加散热片表面积、改善风道设计等。

　　应优先选择低内阻、低损耗、高效率的元器件，同时能适当增加元器件数量及规格。

　　合理的PCB布局有助于减小电路电磁干扰，降低损耗和温升，减少系统噪声，提高抗干扰性。

　　通过优化散热设计来降低温度，如增加散热片面积、优化风道设计、增加风扇数量和转速等。

　　加强制造工艺控制和良品率管理，确定保证产品符合规范要求。并且加强产品的温升测试，在生产的全部过程中对电源进行多次测试，及时有效地发现不合格产品，以便及早调整。

　　如上图首先通过对各元器件进行点温，观察各元器件的气温变化，如图04号元器件为MOS管，点温才不到几分钟后，MOS的温度就达到了93.7度，而其它元器件温度较为正常，初步判定MOS管出现了问题。

　　如上图为再经过几分钟后的元器件温度（01-08为各元器件测试温度），继续观察。

　　如上图可以明显看到，虽然所有的元器件（01-08为各元器件测试温度）温度都在持续上升，但都没有特别大的异常，唯独MOS高达116的温度，可以基本确定是MOS烧坏而导致样机老化时突然没有输出。

　　经过测试后发现，测试元器件的温度都在正常范围内，唯独MOS管的气温变化格外异常（01为输出电容、02为同步ICCR85V25RSA、03为变压器磁芯、04为MOS管、05为IC XS2100S、06为主控IC TT9930、07为输入电容、08为变压器线为环温），经过不断尝试更换一颗同规格但不同厂家的MOS管，然后再进行老化及温度测试，样机正常工作。以下为替换MOS后的温升测试图片：

　　该图为样机老化6小时后的温度，各器件温度已经稳定，全都在合理范围内。04号MOS温度稳定在72.2度左右，离击穿温度还有很大的余量，完全实现用户需求。如果更换MOS后温度还是没有改善，则需要仔细考虑是否为布局问题，可能要重新设计。

　　排除技巧 /

　　排除与维修 /

　　，并检查插座是否有电。 2. 检查输入电压：使用电压表测量输入电压是不是正常。如果输入电压低于

　　排查与维修技巧 /

　　？ /

　　，为设备的正常运行提供电力保障。然而，由于长时间运行、不良环境条件、设计和制造不合理等原因，

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